【免費活動】半導體檢測與量測設備之先進運動控制與定位技術 (10/1)
活動時間 10/1 下午3點-4點半
活動報名連結 https://www.teeia.org.tw/zh-tw/News/Aerotech1001/159
議程介紹
半導體檢測與量測應用在設備產業中，每年都能取得極大的成長動能．由於半導體晶片持續的微縮化，以及異質整合於先進封裝製程等，對於設備開發者而言會是許多新的技術挑戰．
Aerotech 從1970年成立後，專注於高精度運動控制與自動化系統開發，並專注於提供解決方案給半導體檢測等相關應用．
本研討會將說明先進運動控制與定位解決方案如何用以解決半導體檢測所面對的相關技術問題，重要應用包含白光干涉，原子力顯微鏡，瑕疵檢測，電子束檢測，以及其他檢測應用等．使用超精密機構系統，搭配先進控制技術，設備開發者與終端使用者將可以提升相關檢測與量測製程設備的產能與良率。