【宜特小學堂】教你如何判讀可靠度測試 HTOL壽命試驗後的MTTF數據！
您曾經執行完HTOL高溫壽命測試後，想要進一步計算出MTTF與故障率嗎
取得數值後，又該如何進一步應用與判讀呢
為確認產品可靠度的壽命預估，宜特提供高溫工作壽命實驗(High Temperature Operating Live，簡稱HTOL) ，協助IC設計公司以更簡易、低成本的方式，執行先進製程/先進封裝的晶片可靠度壽命預估
這十年期間，宜特可靠度驗證實驗室時常收到許多客戶詢問，本期將介紹MTTF與MTBF的差異，並將重點聚焦於有效運用MTTF預估可靠度壽命，滿足終端客戶或公司允收需求
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