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會員訊息

【線上課程】積體電路製程監控與故障分析概念研討會(11/24)

  • 活動單位:社團法人台灣電子設備協會 
  • 活動對象:對積體電路技術產業暨相關系統業者之在職人士皆可報名
  • 活動日期:110年11月24日(三)09:30-16:30
  • 活動地點:線上研討會
  • 線上報名:https://www.teeia.org.tw/zh-tw/Course/1101124/122
  • 議程資訊:

    110年11月24日

    時間

    議題

    講師

    09:30~12:30

    1.半導體製程量測

    ◆積體電路製程流程概述

    ◆WAT (wafer acceptable test)觀念

    ◆製程過程中的量測技術

    ◆設計準則 (Design Rule)

    南臺科技大學電子工程系

    特聘教授 兼 光電與積體電路故障分析中心執行長

     12:30~13:30

    午餐&休息

     13:30~16:30

    2.IC故障分析-3小時(著重在故障成因與良率關係)

    ◆良率的概念

    ◆良率與故障分析流程

    ◆故障案例分析

    ◆晶圓測試相關流程與測試靈敏度(test marginality、shomo plot)

    南臺科技大學電子工程系

    特聘教授 兼 光電與積體電路故障分析中心執行長